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5E-XRF2500 Espectrómetro EDXRF^Nuevo!

5E-XRF2500 Espectrómetro EDXRF adopts energy dispersive X-ray fluorescence spectrum (EDXRF), which is a qualitative and quantitative analysis technique for rapid and nondestructive determination of major and minor elements in various types of samples (solid, powder, liquid).

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Características
Especificaciones
Piezas de repuesto
Ejemplos de aplicación

Cada segundo cuenta para el proceso y el control de calidad. Los resultados de las pruebas se necesitan con urgencia desde el momento en que se recibe la muestra. Nuestro 5E-XRF2500 está equipado con una interfaz simple e intuitiva que le permite cargar muestras, tocar el botón y obtener resultados de alta calidad en solo segundos.

En comparación con la tecnología de análisis AAS, AFS, ICP e ICP-MS, no es necesario que el XRF2500 disuelva y digiera muestras, ni utilice reactivos químicos. La velocidad de análisis del mismo es rápida sin destruir muestras. 5E-XRF2500 se puede utilizar para analizar muestras, ya sean sólidas o líquidas, prensadas o en polvo, grandes o pequeñas.

Múltiples aplicaciones: Adecuado para muestras sólidas, líquidas, en polvo y de partículas.

Operación fácil:
No hay necesidad de un preprocesamiento complicado de la muestra. Los usuarios solo necesitan colocar muestras en el área de prueba y hacer clic en INICIO/START para completar el análisis.

Alta eficiencia:
1-15 min para el análisis de una sola muestra (que se puede ajustar según sea necesario).

Diseño modular:
La libre configuración según sea necesario, adaptándose a una amplia variedad de escenarios de uso.

Bajo costo:
No se necesitan productos químicos ni otros consumibles, y no se consume helio en el modo de vacío.

Mejor resolución y Tasa de Conteo(CR):
Adopta el detector de deriva de silicio VITUS de nueva generación de hecho en Alemania con la mejor tasa de conteo y resolución de energía del mercado. Aprovechamos al máximo la salida del tubo óptico de 50 W de potencia, asegurando que el 5E-XRF2500 tenga una alta estabilidad y sensibilidad.

Rango de Elementos Ampliado:
Todos los elementos de Na-U se prueban en concentraciones que van desde PPM hasta 100%.

Operación Segura
La cámara de prueba del instrumento posee un sistema de protección triple que incluye cobre grueso, diseño de enclavamiento electrónico e interrupción por software, lo que garantiza absolutamente que no haya fugas de rayos X en ningún tipo de prueba.

Control de pantalla táctil:
El diseño ergonómico de la pantalla táctil permite a los operadores deshacerse de las limitaciones del teclado y el mouse. El diseño del software es simple e intuitivo. Cualquiera puede utilizar el software de control de pantalla táctil para operar el instrumento, lo que hace que todo el análisis sea más fácil y rápido.

Modelo	5E-XRF2500 Espectrómetro EDXRF
Elementos	Todo los elementos desde Sodio hasta Uranio ( Na-U)
Rango de concentraciones	ppm-100%
Aplicaciones	Análisis de composición de fósforo en carbón y cenizas de carbón (Na2O, MgO, Al2O3, SiO2, P2O5, SO3, K2O, CaO, Fe2O3, etc.); Cemento, RoHS, minería geológica, polímeros y plásticos, petroquímica, metal, protección ambiental, medicina, arte arqueológico, alimentación y cosmética.
Tipo de muestras	Polvo, Material Particulado, Soluciones, Solidos y otras
Rotacion de la Muestra	Incrementa el area de analisis rotando la muestras y mejorar la repetibilidad y precisión.
Auto cargador (Opcional)	Cargado continuo automático, capaz de cargar mas de 20 muestras , reduce enormemente la operación manual repetitiva y mejora la eficiencia en el trabajo.
Tubo de Rayos-X	Materiales objetivo opcionales Potencia máxima: 50W Voltaje máximo: 50KV Corriente máxima: 1mA
Detectores	Detector de deriva de silicio VITUS (o VITUS LE) Resolución de energía: : 127eV FWHM @ Mn Kα Tasa de conteo: : 100000cps Refrigeración tipo Peltier
He Sistema de arraste de Helio	El sistema de arrastre con helio incorporado mejora el rendimiento de las pruebas de muestras de polvo.
Sistema de Proteccion para el polvo	Detector integrado y Sistema de protección integrados, para prevenir fugas de muestras liquidas, caída de partículas de muestras sólidas y daños al detector y tubo de rayos X por suciedad.
Sistema de Vacio	La muestra es medida en una camara al vacio, y no consume helio
Seguridad de Radiation	Conforme a estandares GBZ115—2002 Estandard de proteccion radiologica para equipos de difraccion de rayos X y fluorescencia
Dimensiones(L×A×H)	690×630×405mm

5E-XRF2500 Espectrómetro EDXRFNuevo!

5E-XRF2500 Espectrómetro EDXRF^Nuevo!